Passi de notícies inici (ddblock)

Curs Leica Materials

Curs Leica Materials

Oberta la inscripció al I Curs de metrologia superficial per a usuaris de sistemes Leica DCM.

[+]

Instal·lació  al Servei de Microscòpia de la UAB del nou equipament cofinançat amb fons FEDER 2010-2012.

El perfilòmetre 3D de tecnologia dual combina l'adquisició d'imatges confocals amb la interferometria.

VISITES DIDÀCTIQUES PER INSTITUTS