AVÍS!!! Ja tenim noves dates pels cursos interns de TEM i SEM:

El curs bàsic sobre microscòpia electrònica de transmissió (TEM) es realitzarà la setmana del 17 al 21 de Juny de 2019.

El curs bàsic sobre microscòpia electrònica de rastreig (SEM) es realitzarà els dies 26, 27 i 28 de Juny de 20019.

Podeu trobar tota la informació (programa i formulari d'inscripció) aquí

 

  • Visites instituts

    VISITES DIDÀCTIQUES PER INSTITUTS

  • Leica DCM 3D

    Instal·lació  al Servei de Microscòpia de la UAB del nou equipament cofinançat amb fons FEDER 2010-2012.

    El perfilòmetre 3D de tecnologia dual combina l'adquisició d'imatges confocals amb la interferometria.

Campus d'excel·lència internacional U A B