AVÍS!!! Ja tenim noves dates pels cursos interns de TEM i SEM:

El curs bàsic sobre microscòpia electrònica de transmissió (TEM) es realitzarà la setmana del 17 al 21 de Juny de 2019.

El curs bàsic sobre microscòpia electrònica de rastreig (SEM) es realitzarà els dies 26, 27 i 28 de Juny de 20019.

Podeu trobar tota la informació (programa i formulari d'inscripció) aquí

 

  • Leica DCM 3D

    Instalación en el Servei de Microscòpia de la UAB del nuevo equipo cofinanciado con fondos FEDER 2010-2012.

    El perfilómetro tridimensional de tecnología dual combina la adquisición de imágenes confocales con la interferometría

Campus d'excel·lència internacional U A B