Preparación de muestras de SEM

Preparación de muestras de SEM

En el laboratorio disponemos de diversos equipos para la preparación de muestras de SEM. Los equipos de que disponemos son:

Sistema de ataque iónico y recubrimiento PECS

Ataque iónico y recubrimiento de precisión y alta resolución para la limpieza selectiva y/o el recubrimiento de muestras para los microscopios electrónicos FESEM y TEM.

- Etching y recubrimiento en la misma cámara de vacío.
- Cañones de iones Penning: mínimo tres.
- Energía del haz de iones: de 1keV a 10 keV
- Área de ataque iónico: 10 mm.
- Área de recubrimiento: uniforme 25 mm.
- Portamuestras: min. 25 mm, compatible con el FESEM Merlin .
- Inclinación del portamuestras: 0-90º.
- Adaptadores TEM de entrada lateral de portamuestras para el TEM.
- Blancos: 4 blancos seleccionables externamente (C, Cr, Au, Pt).
- Monitor de grosor: velocidad de recubrimiento y grosor.
- Sistema de vacío en seco: presión final inferior a 6,8E-4 Pa.

Este equipo ha estado cofinanciado en un 50% a cargo del Fondo de desarrollo regional en el marco operativo FEDER de Cataluña 2007-2013.

 

Punto crítico Baltec CPD030

Parámetros ajustables de calentamiento para el tratamiento suave de las muestras.

Sistema de calentamiento/enfriado integrado

Medidor de flujo para la liberación controlada de C02 después del punto crítico

 

Evaporador de alto vacio Baltec MED020

Capas finas conductoras para análisis de Rayos-X

Películas de carbón para soportes en films de formvar o collodion.

Ombreados normales, con rotación y bajo ángulo

Recubrimientos finos de carbón o metal/carbón para TEM/SEM de alta resolución.

 

 Metalizador 

E5000 Sputter Coater. Polaroid Equipment Limited. Watford.

K550 Sputter Coater / K250 Coater Carbon Attachement

El recubrimiento por pulverización catódica de las muestras inhibe la carga, reduce el daño térmico y mejora la emisión de electrones secundarios.

 

 Struers LaboPress 3 Mounting Press

Parámetros controlados individualmente: temperatura, fuerza/presión, tiempo de calentamiento, tiempo de enfriamiento.

Sistema hidráulico con control de presión de precisión.

 

 

Pulidora automática Laboforce de Struers

Pulidora de doble cabezal y velocidad variable. Con brazo automático para el pulido de muestras para SEM.

Discos de SiC para pulir materiales blandos y no férreos, con un tamaño de grano que va desde las 54 a las 14 micras.

Discos de felpa para un pulido final hasta las 0.02 micras.

 

Campus d'excel·lència internacional U A B