Microscòpia electrònica

 

Microscopis electrònics de Rastreigs (SEM)

 

Zeiss Merlin Zeiss Evo Hitachi S-570

 

 

 

SEM d'altra resolució amb EDX i EBSD

SEM convencional amb EDX SEM convencional

 

Microscopis Electrònics de Transmissió (TEM)

JEOL 2011 JEOL 1400 Hitachi H7000

 

 

 

TEM d'alta resolució amb EDX (200kV) TEM convencional (120 kV) TEM convencional (80kV)

 

Equips de preparació de mostres per a SEM

Punt crític Evaporador Metal·litzador

 

 

 

Serra Polidora Embutidora

 

 

 

Equips de preparació de mostres per a TEM

 

Serra Polidora plana Polidora cóncava

Polidora iònica Ultramicròtom Crio ultramicròtom

AFS Crio plunging Leica EMGP Glow dicharge

 

 

 

 

Campus d'excel·lència internacional U A B