Hitachi S-70
Microscopio de manejo muy fácil e intuitivo para la observación de muestras convencionales en electrones secundarios. Resolución media.
Muy adecuado para la realización de prácticas en grados y postgrados y formación básica del equipo para nuevos usuarios
Resolución: 3.5nm a 30kV
Voltatge d'acceleració: 0.5-30 kV
Detectores:
Secundarios estándar
Secundarios In-lens
Diámetro máximo de las muestras:
200mm
Sistema de control: Quartz PCI
Aplicaciones.
Estudios morfológics de cél•lules y tejidos
Materials
