Microscopis electrònics de Rastreigs (SEM)
| Zeiss Merlin | Zeiss Evo | Hitachi S-570 |
|
|
|
|
|
SEM d'altra resolució amb EDX i EBSD |
SEM convencional amb EDX | SEM convencional |
Microscopis Electrònics de Transmissió (TEM)
| JEOL 2011 | JEOL 1400 | Hitachi H7000 |
|
|
|
|
| TEM d'alta resolució amb EDX (200kV) | TEM convencional (120 kV) | TEM convencional (80kV) |
Equips de preparació de mostres per a SEM
| Punt crític | Evaporador | Metal·litzador |
|
|
|
|
| Serra | Polidora | Embutidora |
|
|
|
 |
Equips de preparació de mostres per a TEM
| Serra | Polidora plana | Polidora cóncava |
|
|
|
|
| Polidora iònica | Ultramicròtom | Crio ultramicròtom |
|
|
|
|
| AFS | Crio plunging Leica EMGP | Glow dicharge |
|
|
|
|
