Microscopis electrònics de Rastreigs (SEM)
Zeiss Merlin | Zeiss Evo | Hitachi S-570 |
|
|
|
SEM d'altra resolució amb EDX i EBSD |
SEM convencional amb EDX | SEM convencional |
Microscopis Electrònics de Transmissió (TEM)
JEOL 2011 | JEOL 1400 | Hitachi H7000 |
|
|
|
TEM d'alta resolució amb EDX (200kV) | TEM convencional (120 kV) | TEM convencional (80kV) |
Equips de preparació de mostres per a SEM
Punt crític | Evaporador | Metal·litzador |
|
|
|
Serra | Polidora | Embutidora |
|
|
Equips de preparació de mostres per a TEM
Serra | Polidora plana | Polidora cóncava |
|
|
|
Polidora iònica | Ultramicròtom | Crio ultramicròtom |
|
|
|
AFS | Crio plunging Leica EMGP | Glow dicharge |
|
|
|